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新一代鋁合金材料腐蝕在測(cè)試條件分析


為所選鋁合金材料在3.5% NaCl溶液中的動(dòng)電位極化結(jié)果。結(jié)合了所有鋁合金材料的動(dòng)電位極化曲線,分別為新一代Al-Cu-Li合金和傳統(tǒng)合金的曲線。推斷腐蝕電位和蝕電位點(diǎn)蝕電位的值不同合金從圖1中的情節(jié)(點(diǎn)蝕電位,在這種情況下,潛在的超越,有一個(gè)大電流密度的增加而略高于。結(jié)果表明:新一代合金中,Ecorr值最低的AA2050-T84合金腐蝕傾向最高(≈?0.82 V),而Ecorr值最高的AA2098-T351和AA2198-T8合金腐蝕傾向最低(≈?0.68 V)。a2198 - t851合金的Ecorr值(≈?0.76 V)介于AA2050-T84和AA2098-T351/2198-T8合金之間,表明a2198 - t851合金的腐蝕傾向高于AA2098-T351/2198-T8合金,但低于AA2050-T84合金。

電熱合金

盡管如此,所有新一代鋁合金材料在測(cè)試條件下表現(xiàn)出偽被動(dòng)行為。Epit - Ecorr差值顯示了有源-偽被動(dòng)行為的電位范圍。贗鈍化的發(fā)生是由于在合金上形成了非保護(hù)性的氧化層[7,8]。應(yīng)該注意的是,這些合金中的Epits并不是合金的實(shí)際點(diǎn)蝕勢(shì)。這些合金在OCP(即在電位低于偽鈍化范圍時(shí))發(fā)生嚴(yán)重的局部腐蝕。鋁合金材料活性區(qū)之后形成的氧化物只在非點(diǎn)蝕位點(diǎn)上形成。有氧化層[8]的較大表面流過(guò)的電流掩蓋了點(diǎn)蝕點(diǎn)對(duì)總電流的貢獻(xiàn)。因此,在這個(gè)電位范圍內(nèi),偽無(wú)源電流占主導(dǎo)地位。然而,在指定為Epits的電位后,從表面流過(guò)的總電流中,點(diǎn)蝕區(qū)域的貢獻(xiàn)變得顯著[8],并且優(yōu)于偽無(wú)源電流,這導(dǎo)致每個(gè)電位的電流密度顯著增加。

電熱合金

在常規(guī)鋁合金材料中,AA7050-T8451合金的腐蝕傾向最高,Ecorr值為≈?0.84 V,其次是AA6082-T6合金,Ecorr值為≈?0.72 V。高溫合金材料的腐蝕傾向最低,Ecorr值為≈?0.63 V。鋁合金材料在三種常規(guī)合金的比較中,高溫合金材料在測(cè)試條件下沒(méi)有顯示任何偽被動(dòng)范圍。事實(shí)上,在所有相比較的合金中,高溫合金材料是唯一沒(méi)有表現(xiàn)出偽鈍化行為的合金。這意味著,腐蝕區(qū)域?qū)傠娏鞯呢暙I(xiàn)是顯著的(電位等于或低于Ecorr),淹沒(méi)了氧化層表面的電流。因此,與其他合金相比,高溫合金材料可能具有更高的活性點(diǎn)蝕區(qū)。


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